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| 产品简介： 广角激光光散射仪采用TurboCorr数字相关器，通过动态光散射的方法可以测量小至1nm的纳米颗粒分布情况，通过静态光散射的方法可测量高分子材料的Zimm、Berry、Debye曲线、分子量、均方根回旋半径及第二维里系数。经国内外众多实验室使用，证明BI-200SM是研究聚合物、胶束、微乳液以及复杂溶液等体系理想的测试仪器。 |
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| 产品简介： Omni多角度粒度与高灵敏度Zeta电位分析仪结合了背向光散射技术与传统动态光散射技术以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技术，拥有15°、90°与173°三个散射角度，突破了传统单角度光散射仪测量的局限性，硬件PALS技术解决了低电泳迁移率体系Zeta电位的精确测量，是一 |
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| 多角度激光散射仪技术参数： 分子量测量范围 500～109 Dalton 分子尺寸测量范围 10～1000nm 散射体积 20nL 体积 样品池100μL 背压 最大3.5MPa（500psi） 角度 |
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| 产品简介： BI-DCP是基于经典的离心/沉降原理，通过高精度的数字式电机控制，是分辨率和准确率优越的粒度仪。广泛应用于胶乳、碳黑、陶瓷和金属粉末等行业的质量控制方面。 详细说明： 工作原理 重力或者离心力使得悬浮在样品转盘腔内的颗粒可以产生沉降或离心运动。大颗粒运动较快，小颗粒运动较慢，随着时间的增加，大小颗粒自然分级并依次通过 |
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| 简单介绍: 173Plus多角度粒度测试仪结合了背向光散射技术与传统动态光散射技术，拥有15°、90°与173°三个散射角度，突破了传统单角度光散射仪测量的局限性，实现在同一台粒度分析仪中，即可以同时兼顾大、小颗粒的散射光信号，又可以有效地提高了测量浓度上限，是一款功能强大的粒度分析仪。 详细说明： Brookhaven公司应用光纤技术将背向光散射技术与传统动态光散射技术 |
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| 产品简介： 90Plus PALS高灵敏度Zeta电位及粒度分析仪是目前能够精确测量低电泳迁移率体系Zeta电位的仪器，它采用的是真正的硬件PALS(相位分析光散射)技术，比其它测量Zeta电位的技术灵敏度高约1000倍！ 详细说明： NanoBrook产品系列 项目 |
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