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  · Omni多角度粒度及高灵敏度Zeta电位分析仪
产品简介：     Omni多角度粒度与高灵敏度Zeta电位分析仪结合了背向光散射技术与传统动态光散射技术以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技术，拥有15°、90°与173°三个散射角度，突破了传统单角度光散射仪测量的局限性，硬件PALS技术解决了低电泳迁移率体系Zeta电位的精确测量，是一
更新时间: 2025-01-13
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